
Il setup per le misure del coefficiente Seebeck utilizza un apparato di misure realizzato da MMR Technologies.
Permette l’analisi di diversi tipi di materiali su un range di temperatura tra -70 e 350 °C. L’apparato è composto da una camera in vuoto criogenica, internamente alla quale il campione viene montato ed analizzata, ed un’elettronica che controlla sia la misura della tensione termica generata, tramite nano-voltmetro, e il controllo in temperatura. Il sistema è connesso ad una workstation tramite RS-232, con la quale è possibile il controllo del sistema via software.
ll processo di misurazione adottato da questo sistema prevede il confronto tra due tensioni termogenerate, una sviluppata da un materiale noto (rame o costantana) e presa come riferimento, l'altra generata dal materiale da analizzare. Conoscendo il coefficiente del materiale di riferimento è possibile estrapolare, attraverso semplici calcoli analitici, il coefficiente del campione in analisi.
SPECIFICHE TECNICHE
Range di temperature Range: da -70 °C a 350 °C;
Pressione base: 5 x 10-3 mbar;
Misure del coefficente Seebeck altamente accurate, con una risoluzione di 50 nV;
Generazione di un gradiente di temperatura sul campione, potenza utilizzabile Min: 0.01W, Max: 1W;
Lunghezza campioni: >2 mm e <10 mm
CAMPIONI
I campioni devono avere una geometria filiforme con un diametro di 1 mm e una lunghezza pari a circa 5 mm, per cercare di riprodurre la forma del campione di riferimento;
I film sottili possono essere cresciuti su cilindri di allumina sottili con un diametro di 1 mm e una lunghezza pari a circa 5 mm per cercare di riprodurre la forma del campione di riferimento.

ESEMPI APPLICATIVI
Film sottili nanostrutturati a base di ZnSb sono stati prodotti tramite Pulsed Laser Deposition (PLD) utilizzando un laser ns-ArF (193 nm) e un sistema di deposizione multi-target. I film sono stati preparati secondo una struttura multi-layer, ottenuta aggiungendo diversi droganti (Cr, Ag) all'interno della matrice di ZnSb.
Si veda: A. Bellucci et al., Appl. Surf. Sci. 418 (2017) 589-593, doi: 10.1016/j.apsusc.2016.09.121
